Çekme gerilmesine maruz eksenel yüklü elemanlar; genellikle kafes kirişlerde gövde ve başlık elemanları, askı ve sehim çubukları, yanal stabilite için kullanılan çaprazlar veya moment birleşimlerindeki bindirmeli ekler olarak kullanılır.
Bu elemanlar, kolon ve kirişler gibi basınca bağlı yanal burkulma riski taşımaz. Ancak narinliğin etkisi mutlaka göz önüne alınmalı ve L/r ≤ 300 koşulu sağlanmalıdır (Türk Çelik Yapılar Yönetmeliği Madde 7.1.1).
🔧 Tasarımda İki Kritik Sınır Durumu
- Çekme Akması: Kayıpsız kesit alanında (Ag) gerilmenin plastik şekil değiştirmeye yol açtığı sınır durum.
- Çekme Kırılması: Etkin net kesit alanında (Ae) gerilmenin elemanın kopmasına neden olduğu sınır durum.
Akma sınırı için kayıpsız enkesit alanı (Ag), kırılma sınırı için ise etkin net enkesit alanı (Ae) dikkate alınır. Etkin net alan; bağlantı tipi (bulonlu / kaynaklı) ve gerilim düzensizliği katsayısı (U) yardımıyla belirlenir.
🧩 Gerilim Düzensizliği Katsayısı (U)
Türk Çelik Yapılar Yönetmeliği Tablo 7.1’de bağlantı tiplerine göre gerilim düzensizliği katsayısı verilmiştir.
- Kaynaklı birleşimler: Genellikle U = 1 alınır
- Bulonlu birleşimler: Delik kayıpları ve yük aktarım yolu dikkate alınır
🟥 Blok Kırılma Sınır Durumu
Çekme elemanlarının uç birleşimlerinde, kesme ve çekme etkilerinin aynı anda oluşması sonucu ortaya çıkan karmaşık bir göçme türüdür.
- Hem kesme (V) hem de çekme (T) etkileri dikkate alınır
- Değerlendirme Türk Çelik Yapılar Yönetmeliği Madde 13.4.3’e göre yapılır
📐 Çekme Elemanlarının Tasarım Adımları
- Akma sınırı için Ag belirlenir
- Kırılma sınırı için Ae hesaplanır
- U katsayısı dikkate alınır
- Blok kırılma kontrolleri yapılır
Tasarımda en küçük dayanımı veren sınır durum esas alınarak kesit seçimi yapılmalıdır.
🔩 Birleşim Kontrolleri
- Kaynaklı birleşimler: Çekme ve kesme etkileri
- Bulonlu birleşimler: Çekme, kesme, ezilme ve dışmerkezlik etkileri
📏 Narinlik Koşulu
📊 Sonuç Olarak
- LRFD:
ΦPn ≥ Pu→ Kapasite yeterli - ASD:
Pn / Ω ≥ Pu→ Kapasite yeterli
Pu: Yapısal analiz sonucu elemanda oluşan çekme kuvveti
